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專利名稱(中) 半導體結構
專利名稱(英) Semiconductor structure
專利家族 中華民國:202335309(公開號)
大陸:CN116666452A(公開號)
美國:2023-0275161(公開號)
專利權人 國立清華大學 100%
發明人 黃智方,胡家瑋,許甫任
技術領域 電子電機
專利摘要(中)
本發明揭露一種半導體結構,包含:一蕭基二極體結構,該蕭基二極體結構包含:一第一N型半導體層、一第一溝槽、一第一絕緣層、至少兩個多晶矽 層(Poly-Si)、一第一P型保護層以及一金屬層;第一溝槽延伸通過第一N型半導體層且設置於第一N型半導體層中;第一絕緣層設置於第一溝槽內;至少兩個多晶矽層設置於該第一溝槽內,上層的多晶矽層與下層的多晶矽層平行設置,且第一絕緣層位於第一溝槽之內;第一P型保護層用以接地且設置於第一溝槽底部,且該第一P型保護層並接觸第一絕緣層與下層的多晶矽層之底面;金屬層分別設置於半導體結構之一上表面與一下底面,以分別形成一源極與一汲極,做為半導體結構與外界連結之電極;金屬層覆蓋與第一溝槽,並在金屬層與第一N型半導體層頂部之交界處具有蕭基接面,且電子累積(Accumulated electrons)區形成在第一絕緣層外側;其中,第一P型保護層之底面與第一N型半導體層之交界面具有一PN接面。
聯絡資訊
承辦人姓名 李曉琪
承辦人電話 03-5715131 #31061
承辦人Email hsiaochi@mx.nthu.edu.tw
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