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| 專利名稱(中) | 積體電路元件檢測系統 |
| 專利家族 |
中華民國：I392888 美國：7,675,309 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 吳誠文,邢育肇,黃稚存 |
| 技術領域 | 電子電機 |
 專利摘要(中) |
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| 本發明揭示一種積體電路元件檢測系統，其係在一測試機台與一積體電路元件之間傳送測試資料/訊號。積體電路元件檢測系統包含一具有一第一收發模組之測試頭；一具有一檢測單元之測試台，該檢測單元耦接於該測試頭以進行測試；一通訊模組，該通訊模組具有一第二收發模組，而可與第一收發模組以無線通訊方式進行資料交換；一積體電路元件，其具有一待測核心電路；一測試模組，其具有一耦接該核心電路及通訊模組之自我測試電路，以進行核心電路之自我測試。 |
 聯絡資訊 |
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|---|---|
| 承辦人姓名 | 李曉琪 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #31061 |
| 承辦人Email | hsiaochi@mx.nthu.edu.tw |
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