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專利名稱(中) 利用掃描式同調光繞射的三維顯影方法及系統
專利家族 中華民國:I782822
大陸:CN116266378A(公開號)
美國:US2023/0199162A1(公開號)
專利權人 國立清華大學 100%
發明人 陳健群
技術領域 光電光學
專利摘要(中)
本发明提供一种利用扫描式同调光绕射的三维显影方法及系统,二维光侦测器侦测由光源以扫描方式朝向待测样品的单一面向发射的同调光束经绕射而产生的多个二维绕射数据分布;处理器将该等二维绕射数据分布转换成在倒空间的多个三维强度分布,根据样品函数、光源函数和该等三维强度分布进行多次迭代演算以获得相位恢复的样品函数,并根据该相位恢复的样品函数并执行三维绘图应用程序生成该待测样品的三维重建影像,由此实现相对容易、省时且对该待测样品所遭受的光照射损害降至最低的三维影像重建。
聯絡資訊
承辦人姓名 楊美茹
承辦人電話 03-5715131 #62305
承辦人Email mjyang2@mx.nthu.edu.tw
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