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| 專利名稱(中) | 三維晶片之不連續型態層識別編號檢測及其方法 |
| 專利名稱(英) | Discontinuous Type Layer-ID Detector for 3D-IC and Method of the Same |
| 專利家族 |
中華民國：I425356 大陸：1495785 美國：8,564,305 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 吳威震,陳銘斌,張孟凡 |
| 技術領域 | 電子電機 |
 專利摘要(中) |
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| 一種用於N層堆疊元件之每一層之三維晶片檢測器，包括：一除二電路，耦接一(N-1)訊號；一第一比較器，耦接除二電路，其中一輸入A耦接一初始層數訊號，第一比較器之一輸入B耦接除二電路之一輸出；一第二比較器，藉由第二比較器之一輸入A而耦接初始層數，一num耦接第二比較器之一輸入B；一第一加減電路，藉由第一加減電路之一輸入A而耦接num，藉由第一加減電路之一輸入B而耦接第一比較器，並藉由第一加減電路之一輸入“＋/-”訊號而耦接第二比較器；以及一第二加減電路，藉由第二加減電路之一輸入A而耦接第一比較器，藉由第二加減電路之一輸入B而耦接num。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李曉琪 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #31061 |
| 承辦人Email | hsiaochi@mx.nthu.edu.tw |
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