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專利名稱(中) 具有極低折射率的抗反射構造及含有此構造的裝置
專利名稱(英) Antireflection structures with an exceptional low refractive index and devices containing the same
專利家族 中華民國:I425058
美國:8,518,561
專利權人 國立清華大學 100.00%
發明人 果尚志,陳虹穎,佘銘軒,薛涵宇,何榮銘
技術領域 材料化工,光電光學
專利摘要(中)
藉由分可分解性之團聯共聚物,聚苯乙烯-b-聚(L-乳酸)(PS-PLLA),的自組裝與後續的PLLA團塊水解製得具有五角三八面體奈米通道(gyroid nanochannel)的奈米多孔聚合物。使用該奈米多孔PS作為模板進行溶液-凝膠反應得到具有位於PS主體內的SiO2五角三八面體奈米構造之良好定義的奈米混成材料。該PS主體被UV降解後會留下一高度多孔性五角三八面體網絡,產生了一具有極低折射率(可低至1.1)的單一成份材料。
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承辦人姓名 李馥如
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