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專利名稱(中) 具有極低折射率的抗反射構造及含有此構造的裝置
專利名稱(英) Antireflection structures with an exceptional low refractive index and devices containing the same
專利家族 中華民國:I425058
美國:8,518,561
專利權人 國立清華大學 100%
發明人 果尚志,陳虹穎,佘銘軒,薛涵宇,何榮銘
技術領域 材料化工,光電光學
聯絡資訊
承辦人姓名 李佳玲
承辦人電話 03-5715131 #62300
承辦人Email cl.lee@mx.nthu.edu.tw
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