專利授權區 | |
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專利名稱(英) | INSPECTION METHOD FOR MULTILAYER SEMICONDUCTOR DEVICE |
專利家族 |
中華民國:I777576 美國:11,313,670 |
專利權人 | 國立清華大學 100% |
發明人 | 衛子健,徐米克,黎德英 |
技術領域 | 光電光學 |
聯絡資訊 | |
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承辦人姓名 | 周家鳳 |
承辦人電話 | 03-5715131 #34576 |
承辦人Email | cf.chou@mx.nthu.edu.tw |