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| 專利名稱(中) | 量測介電常數之系統及方法 |
| 專利名稱(英) | SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING PERMITTIVITY |
| 專利家族 |
中華民國：I546543 美國：9,810,645 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
| 發明人 | 趙賢文,張存續,翁唯軒 |
| 技術領域 | 材料化工,機械結構,電子電機 |
 專利摘要(中) |
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| 一種量測介電常數之系統包含一共振腔體、一導電探針、一平台、一柱腳、一偵測器以及一運算模組。共振腔體具有一空腔。導電探針用以導入一微波至共振腔體之空腔。平台用以承載一待測物。柱腳設置於平台以及腔壁之間，使平台突出於腔壁。偵測器用以偵測微波於空腔發生共振時之一共振頻率。運算模組依據一共振頻率及介電常數對應關係，以所量測之共振頻率計算出相對應之一介電常數。上述量測介電常數之系統之量測步驟簡便、準確度高且可量測之介電常數範圍廣。同時亦揭露一種量測介電常數之方法。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李馥如 |
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