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| 專利名稱(中) | 測試直通矽晶穿孔的方法及其電路 |
| 專利名稱(英) | Method for Testing Through-Silicon-Via and the Circuit Thereof |
| 專利家族 |
中華民國：I411795 美國：8,531,199 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 吳誠文,陳柏源,蒯定明,周永發 |
| 技術領域 | 電子電機 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李曉琪 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #31061 |
| 承辦人Email | hsiaochi@mx.nthu.edu.tw |
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