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專利名稱(中)	材料電磁特性量測裝置以及其量測方法
專利名稱(英)	MEASURING APPARATUS FOR ELECTROMAGNETIC PROPERTY OF MATERIAL AND MEASURING METHOD THEREOF
專利家族	中華民國：I607227 美國：US10,353,022B2
專利權人	國立清華大學 100%
發明人	趙賢文,翁唯軒,陳彥任,張存續
技術領域	材料化工,光電光學,電子電機

專利摘要(中)
一種材料電磁特性量測裝置，包括:一腔體與一特定結構物件。該腔體在內部有一空腔，且腔體有一電磁波通口端與該空腔連通，用以接收一輸入電磁波與輸出一共振電磁波。該特定結構物件對應電磁波通口端設置在該空腔內，用以在該空腔內產生以一區域。該區域是由磁場成份主要佔據，該區域用以置放一待測物件。

專利摘要(中)

一種材料電磁特性量測裝置，包括:一腔體與一特定結構物件。該腔體在內部有一空腔，且腔體有一電磁波通口端與該空腔連通，用以接收一輸入電磁波與輸出一共振電磁波。該特定結構物件對應電磁波通口端設置在該空腔內，用以在該空腔內產生以一區域。該區域是由磁場成份主要佔據，該區域用以置放一待測物件。