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| 專利名稱(中) | 無探針式積體電路平行測試系統及其測試方法 |
| 專利家族 |
中華民國：I537578 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 黃錫瑜,林崇榮,金雅琴 |
| 技術領域 | 通信傳輸,光電光學,電子電機 |
 專利摘要(中) |
|---|
| 本發明提供一種無探針式積體電路平行測試系統，其包含一IC晶片、一無線電源接收模組以及一內建自我測試電路。無線電源接收模組電性連接IC晶片及內建自我測試電路。無線電源接收模組、內建自我測試電路及IC晶片係一同被形成於一晶圓上。無線電源接收模組提供電源至內建自我測試電路及IC晶片，IC晶片於接受無線電源模組供電後，執行對應之一功能運作，並將運作結果傳送至內建自我測試電路以測試功能運作之正確性。藉此全程無線之電源供應及訊號發送方式，得以排除探針的使用，降低測試複雜度，亦可達到一次性之平行測試。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李曉琪 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #31061 |
| 承辦人Email | hsiaochi@mx.nthu.edu.tw |
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