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專利名稱(中) 基於時間域相位展開之應力分析方法
專利名稱(英) METHOD FOR ANALYZING STRESS IN AN OBJECT
專利家族 中華民國:I628422
大陸:3583501
美國:10,036,677
專利權人 國立清華大學 100.00%
發明人 洪德恆,江禹安,宋泊錡,王偉中
技術領域 機械結構,光電光學
專利摘要(中)
一種應力分析方法,適於一計算機裝置執行,包含以下步驟:步驟(A)存取一光譜資料,該光譜資料是由一光學檢測系統透過光彈技術偵測一待測物件的一干涉條紋圖形所產生,該光譜資料包含至少三筆對應於相異波長的光強度資訊;步驟(B)依據每一光強度資訊計算一相應的包裹相位資訊;步驟(C)依據每一包裹相位資訊計算一相應的包裹應力資訊,每一包裹應力資訊是正比於其相應的包裹相位資訊對波長之線性函數的乘積;步驟(D)依據包裹應力資訊之間的相對關係擇定一計算關係式;及步驟(E)依據該計算關係式計算一相應於該待測物件之包裹應力資訊的應力值。
聯絡資訊
承辦人姓名 劉千綺
承辦人電話 03-571-5131 #31181
承辦人Email chienchi@mx.nthu.edu.tw
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