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專利名稱(中)	具有薄層層析之拉曼檢測晶片及分離檢測分析物之方法
專利名稱(英)	Raman detecting chip for thin layer chromatography and method for separating and detecting an analyte
專利家族	中華民國：I634329 大陸：3762208 大陸：4651346 美國：10,012,625 美國：10,520,363
專利權人	國立清華大學 65.00% ,財團法人工業技術研究院 35.00%
發明人	黃致豪,嚴大任,李璧伸,林鼎晸
技術領域	材料化工,生化醫藥,光電光學

專利摘要(中)
本发明公开一种具有薄层层析的拉曼检测芯片及分离检测分析物的方法。该具有薄层层析的拉曼检测芯片包含一硅基底，包含一平坦部及配置于该平坦部之上的多个纳米线，其中每一纳米线具有一顶端表面及一侧壁；以及，一金属层覆盖该纳米线的顶端表面及至少部分侧壁，其中该纳米线的总长度L为5μm至15μm。

專利摘要(中)

本发明公开一种具有薄层层析的拉曼检测芯片及分离检测分析物的方法。该具有薄层层析的拉曼检测芯片包含一硅基底，包含一平坦部及配置于该平坦部之上的多个纳米线，其中每一纳米线具有一顶端表面及一侧壁；以及，一金属层覆盖该纳米线的顶端表面及至少部分侧壁，其中该纳米线的总长度L为5μm至15μm。