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專利名稱(中) 多埠記憶體之測試方法及電腦可讀取之記錄媒體
專利家族 中華民國:I252974
美國:7,117,409
專利權人 國立清華大學 100%
發明人 黃稚存,鄭國良,王志偉,吳誠文
技術領域 資訊工程,電子電機
專利摘要(中)
一種多埠記憶體之測試方法,該多埠記憶體具有複數存取埠可平行存取其所有之記憶晶胞(記憶位址),且該測試方法包含至少一測試單元,而該測試單元包含至少一測試動作,並藉由該等存取埠依序對每一記憶晶胞(記憶位址)進行所包含之測試動作,特別是,該測試方法更在該測試單元包含複數測試動作時,將該等測試動作分派給該等存取埠,並使該等存取埠在一記憶晶胞(記憶位址)之測試時脈週期中的不同時點對同一記憶晶胞進行被分派之測試動作,藉此有效縮短多埠記憶體之測試時間。
專利摘要(英)
自行申請補件
聯絡資訊
承辦人姓名 李曉琪
承辦人電話 03-5715131 #31061
承辦人Email hsiaochi@mx.nthu.edu.tw
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